同步辐射高分辨率X射线荧光光谱仪成功调试

时间:2019-03-25 01:44:56 来源:吉安门户网 作者:匿名



中国科学院(高能研究所):随着同步辐射实验技术的发展,高能分辨率X射线荧光检测技术可以准确地确定荧光发射谱线的线性和峰位,从而开展元素研究。化学价态。由于此类设备尚未在中国建立,因此难以开展高水平的研究工作,用户对此有很强的需求。

在高能研究所的知识创新基金的支持下,同步辐射室于2002年开始研发一种由多个球形聚焦晶体组成的大接收角高分辨率X射线荧光光谱仪。通过研究团队全体成员的努力,并通过与Blokhaven国家同步辐射实验室和新泽西理工学院物理系的密切合作,成功完成了光谱仪的设计,加工和调试。设计要求。在2003年10月至11月期间,在同步辐射的特殊辐射期间,进行了实验测试并获得了良好的结果。

获得的含有Mn的各种化合物的价态的高分辨率荧光光谱表明光谱仪的能量分辨率优于1eV,达到原始设计指数(设计值为1-2eV)。通过测量锰的特征发射线的线性和峰值位置变化,可以清楚地区分不同化合物中锰的价态。该结果表明该装置有望应用于元素的化学状态分析,为BSRF增加了一种新的实验方法。

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